·Î±×ÀÎ ¸¶ÀÌÆäÀÌÁö ÀÌ¿ë¾È³» °í°´¼¾ÅÍ ¼­ºñ½º¾È³» ä¿ëÁ¤º¸µî·Ï À̷¼­µî·Ï
±â¾÷ȸ¿ø¼­ºñ½º°³ÀÎȸ¿ø¼­ºñ½º
Àαâ°Ë»ö¾î : Á¤±ÔÁ÷ ¼­¿ï ABAP ÇÁ¸®·£¼­ ½ÅÀÔ»ç¿ø ½ÅÀÔ bw
ä¿ëÁ¤º¸ ÀÎÀçÁ¤º¸ Ä¿¹Â´ÏƼ °í°´¼¾ÅÍ
ÁغñµÈ ½º¸¶Æ® ÆÑÅ丮 ±¸ÇöÀ» À§ÇÑ ÀÎÀç
Æ®À§Å͹ÌÅõµ¥À̸µÅ©³ª¿ìÆäÀ̽ººÏ
- ´ëÇÐ(4³â) ÀçÇÐ
- 3°³¿ù
2017³â 05¿ù »ý»êÀÚµ¿È­»ê¾÷±â»ç [Çѱ¹»ê¾÷Àη°ø´Ü]
2017³â 02¿ù Labview CLAD [National Instrument]
2016³â 12¿ù IOT Áö½Ä´É·Â°ËÁ¤ [Çѱ¹»ç¹°ÀÎÅͳÝÇùȸ]
3 ¿µ¾î [Áß] OPIC       IM2 2017-02-18
3 ÀϾî [ÇÏ] JPT       450 2016-03-18
ÃÖÁ¾¼öÁ¤ÀÏ : 2017³â 10¿ù 26ÀÏ
º» Á¤º¸´Â °³ÀÎÀÌ µî·ÏÇÑ À̷¼­Á¤º¸À̸ç, SAP ±¸Àα¸Á÷ ȨÆäÀÌÁö´Â(Àº) ±âÀçµÈ ³»¿ë¿¡ ´ëÇÑ ¿À·ù¿Í Áö¿¬, »ç¿ëÀÚ°¡ À̸¦ ½Å·ÚÇÏ¿© ÃëÇÑ Á¶Ä¡¿¡ ´ëÇÏ¿© Ã¥ÀÓÀ» ÁöÁö ¾Ê½À´Ï´Ù. º» Á¤º¸´Â SAP ±¸Àα¸Á÷ ȨÆäÀÌÁöÀÇ µ¿ÀÇ ¾øÀÌ Àç¹èÆ÷ÇÒ ¼ö ¾ø½À´Ï´Ù. °³ÀÎÁ¤º¸°¡ ´ã±ä À̷¼­µîÀ» ºÒ¹ý À¯Ãâ ¹× ¹èÆ÷ÇÏ°Ô µÇ¸é ¹ý¿¡ µû¶ó Ã¥ÀÓÀ» Áö°Ô µÇ´Ï ¾çÁöÇϽñ⠹ٶø´Ï´Ù.
ȸ»ç¼Ò°³ | °³ÀÎÁ¤º¸Ãë±Þ¹æħ | ȸ¿ø¾à°ü | °í°´Áö¿ø¼¾ÅÍ | Á¦ÈÞ ¹× ±¤°í¹®ÀÇ | ´ÙÀÌ·ºÆ®°áÁ¦